О. С. Свістельник і Л. О. Чепюк, «Теоретичні основи побудови мікропроцесорної інформаційно-вимірювальної системи контролю параметрів мікроклімату на поліграфічному виробництві», ten, вип. 1(97), с. 397–402, Лют 2026.