[1]
Свістельник, О.С. і Чепюк, Л.О. 2026. Теоретичні основи побудови мікропроцесорної інформаційно-вимірювальної системи контролю параметрів мікроклімату на поліграфічному виробництві. Технічна інженерія. 1(97) (Лют 2026), 397–402. DOI:https://doi.org/10.26642/ten-2026-1(97)-397-402.